X光检查颌骨密度法
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X光检查颌骨密度法:
X线光检查颌骨骨密度法是依据骨量不同对X线吸收的差异,北京张博士医考搜集整理在X线片上形成不同灰度来测量BMD.将铝制梯级与骨组织同时摄像,得到标准的X线片,通过已知铝制梯级的密度和厚度,估算出被测骨的密度或骨矿含量。Kribbs等应用显微骨密度测量术研究下颌骨密度,即在定位根尖片?方放置标准铝制梯级,但此法不适合于无牙颌患者。Atwood和Cov用头影测量片附加铝制标准梯级测量颌骨密度。Horner和Delvin等则用曲面断层片附加镍制楔形梯级(0.0326~0.623 mm),后者克服了铝制梯级(4.5~8.0 mm)较厚的缺点。但X线光密度法是间接测量法,受X线曝光条件、胶片质量、冲洗条件等影响,精度不高。此外,这类方法辐射量较大,将三维结构成像于二维平面上,敏感性亦较差。近年来,应用计算机数字减影技术对定位根尖片进行分析,有一定应用价值,可重复投照,可对上下颌进行局部的骨密度测定,有利于纵向观察,检测骨质改变的灵敏度亦较高。但由于定位根尖片的投照区域、方法局限,影响了其适用范围。
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