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根分叉临表-口腔执业助理医师复习精华
北京张博士医考张银合博士携全体优秀老师助大家考试顺利通过！
为方便广大考生复习，北京张博士医考整理了口腔助理医师考试的相关内容，以供参考：
牙周袋和骨吸收波及根分叉区，可从临床上探查到。主要根据探诊和X线片来判断病变的程度。Glickman将其分为四度，此分类法有利于指导治疗和判断预后。
I度：从牙周袋内已能探到根分叉的外形，但尚不能水平探入分叉内，在X线片上看不到分叉区牙槽骨的吸收。
Ⅱ度：分叉区骨吸收仅限于颊侧或舌侧，或颊舌侧均有吸收但尚未与对侧相通，根分叉区内尚有部分牙槽骨和牙周膜存在。临床探查时探针可从水平方向部分地进入分叉区内，但与对侧不相通，X线片一般仅显示分叉区的牙周膜增宽，或骨质密度有小范围的降低。
Ⅲ度：根分叉区的牙槽骨全部吸收，形成“贯通性”病变，探针能水平通过分叉区，但它仍被牙周袋软组织覆盖而未直接暴露于口腔。下颌磨牙的Ⅲ度病变在X线片上可见完全的透影区，但有时会因牙根靠近或外斜线的重叠而使瘸变不明显医`学北京张博士医考搜集整理。
Ⅳ度：根间骨隔完全破坏，且牙龌退缩而使病变的根分叉区完金暴露于口腔。X线片所见与Ⅲ度病变相似。
上颌磨牙的颊侧以及下颌磨牙的颊、舌侧分叉一般较易探查，但上颌磨牙邻面的分叉病变较难探测，可用弯探针从腭侧进入，分别探测近中及远中分叉。上颌 磨牙根分叉区的病变常因与腭根重叠而不被显示。X线片只能起辅佐作用。总的说来，由于受投照角度、组织影像重叠以及骨质破坏形态的复杂性，X线片所见的病 变总是比临床实际要轻。
根分叉区易于存积菌斑，故该处的牙周袋常有明显的炎症或溢脓，但也有时表面似乎正常，而袋内壁却有炎症，探诊后出血常能提示深部存在炎症。当治疗不彻底或其他原因使袋内引流不畅时，可能发生急性牙周脓肿。
当病变使牙根暴露或发生根面龋，或牙髓受累时，患牙常可出现对温度敏感直至自发痛等症状。早期牙齿尚不松动，晚期可出现牙齿松动。
「张博士医考www.guojiayikao.com整理，如有转载，请注明出处」
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牙周袋和骨吸收波及根分叉区，可从临床上探查到。主要根据探诊和X线片来判断病变的程度。Glickman将其分为四度，此分类法有利于指导治疗和判断预后。
I度：从牙周袋内已能探到根分叉的外形，但尚不能水平探入分叉内，在X线片上看不到分叉区牙槽骨的吸收。
Ⅱ度：分叉区骨吸收仅限于颊侧或舌侧，或颊舌侧均有吸收但尚未与对侧相通，根分叉区内尚有部分牙槽骨和牙周膜存在。临床探查时探针可从水平方向部分地进入分叉区内，但与对侧不相通，X线片一般仅显示分叉区的牙周膜增宽，或骨质密度有小范围的降低。
Ⅲ度：根分叉区的牙槽骨全部吸收，形成“贯通性”病变，探针能水平通过分叉区，但它仍被牙周袋软组织覆盖而未直接暴露于口腔。下颌磨牙的Ⅲ度病变在X线片上可见完全的透影区，但有时会因牙根靠近或外斜线的重叠而使瘸变不明显医`学北京张博士医考搜集整理。
Ⅳ度：根间骨隔完全破坏，且牙龌退缩而使病变的根分叉区完金暴露于口腔。X线片所见与Ⅲ度病变相似。
上颌磨牙的颊侧以及下颌磨牙的颊、舌侧分叉一般较易探查，但上颌磨牙邻面的分叉病变较难探测，可用弯探针从腭侧进入，分别探测近中及远中分叉。上颌 磨牙根分叉区的病变常因与腭根重叠而不被显示。X线片只能起辅佐作用。总的说来，由于受投照角度、组织影像重叠以及骨质破坏形态的复杂性，X线片所见的病 变总是比临床实际要轻。
根分叉区易于存积菌斑，故该处的牙周袋常有明显的炎症或溢脓，但也有时表面似乎正常，而袋内壁却有炎症，探诊后出血常能提示深部存在炎症。当治疗不彻底或其他原因使袋内引流不畅时，可能发生急性牙周脓肿。
当病变使牙根暴露或发生根面龋，或牙髓受累时，患牙常可出现对温度敏感直至自发痛等症状。早期牙齿尚不松动，晚期可出现牙齿松动。
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